古陶瓷无损分析技术
发布时间 2013-11-25 浏览 49938 次
分析很难进行;其次它们都是超大型设备,其运行费用相当高,而数据库建立工作需要大量仪器。此外同步辐射X荧光目前只是对撞机运行的附属产品,其供束在一年中只有几个星期的时间,而PIXE在分析白瓷的微量元素时,也要特别避免在样品上留下电离损伤造成的黑斑;还有非文博单位很难收集古陶瓷器系列的系统和完备的样品。在国外,系统的定量分析工作也没有真正开展。我们认为国内各文博单位的积极参与是古陶瓷无损分析研究发展的最强劲推动,也是古陶瓷无损分析向高峰期发展的真正开始。

  90年代随着计算机技术等各类硬件水平的不断提高,规模比加速器和对撞机等要小得多的X射线荧光分析仪(XRF)得到了较快发展,其中能量色散型X射线荧光分析仪(简称EDXRF)也在定量分析、样品靶室体积等方面有了飞速发展。90年代中后期,国内的许多文博单位相继开展了基于EDXRF的文物研究,如故宫博物院、中国历史博物馆、上海博物馆等,在前期的测量工作,各单位都已积累了不少古陶瓷测量数据,在仪器设备、测量方法等方面,有的已处于领先地位,其中还

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