，杂质原子的代位或填隙缺陷、局部位错或畸变等.但对热释光作出贡献的主要机理是，在核辐射的作用下，离子晶体的负离子离开正常的位置形成负离子空穴，使该位置成为电子的“陷阱”.当被核辐射激发到导带的电子扩散到“陷阱”附近时就会被吸引成为“俘获电子”.另一方面，核辐射电离形成的空穴也在价带中扩散，它可能被杂质离子所“俘获”，形成“释光中心”“俘获电子”处于导带下的新能级，而空穴形成的“释光中心”则处于价带上的新能级，这两者都是亚稳态.它们的数量显然和样品历史上所经受的核辐射数量成比例.热释光就是上述电离的复合过程.当取出的样品被加热时，晶格原子的热振动将变得剧烈，“俘获电子”从中获得离开“电子陷阱”的能量，重新在导带中自由扩散.当它扩散至空穴所在的“释光中心”与空穴离子复合时就发出所谓的“热释光”。.显然，热释光的色及强度与陷阱能级深度及数量有关，如在样品加热升温的过程中连续地测量热释光的光强，就可得出一条温度一光强的热释光曲线.它是样品年龄计算的基本数据.

　　热释光断代是需要